0–2h
AGING TESTING
把时间提前施压,
让潜在问题在交付之前出现
通过72小时受控循环与带电浸泡, 持续观察电压、电阻、SOC、温度、通信与间歇故障, 捕捉系统在稳定运行中才可能出现的早期失效和漂移趋势。
生产老化属于 Early-Life Screening,
不是用72小时代替全寿命验证。
0h
24h
38h
48h
56h
72h
72小时老化配方 15秒常规记录 · 关键事件100ms捕获 · 自动安全边界
6h
6h
6h
6h
6h
6h
38–44h
44–48h
48–56h
56–72h
预处理与检查:
完成上电检查、绝缘检查、通信确认、BMS状态和冷却系统确认,
系统满足老化启动条件后才进入循环。
安全许可启动
Interlock Ready
自动保护与降额
绝缘下降 / 过温 / 过压 / 通信异常 → 自动保护
自动停机边界
Safety Boundary
十五Rack漂移扫描 72h趋势总览
OCV漂移(ΔmV)
最大Rack SOC漂移
0.9%
DCIR变化(Δ%)
最大温度漂移
0.4°C
SOC漂移(Δ%)
系统DCIR增加
1.8%
温度漂移(Δ°C)
DCIR限制
≤3%
最大SOC漂移
0.9%
最大温度漂移
0.4°C
系统DCIR增量
1.8%
结论
趋势稳定
间歇事件观测站 72h事件时间线
0h
12h
24h
36h
48h
60h
72h
Controller Reset
Packet Drop
Sensor Excursion
Protection Event
Thermal Event
Operator Note
Rack 12 NTC Open
受控例外:Rack 12 NTC温度通道间歇开路(已闭环)
事件窗口
约12h附近捕获NTC Open事件
影响隔离
锁定Rack 12相关温度通道
纠正措施
检查连接与传感器线路
24h观察
持续运行,无再次触发
NCR
TC-DEMO-NCR-2608-0091
CLOSED
热稳定性观测站 72h热静态 / 热浸观察
最高温度
35.2°C
最大Rack温差
3.9°C
冷却响应
< 8 min
热稳定性
无持续热点
老化后健康对比 72h前后
72h PRODUCTION AGING / EARLY-LIFE SCREENING — NOT SERVICE-LIFE QUALIFICATION
| 指标 | 老化前 | 老化后 | 变化 | 限制 / 趋势 |
|---|---|---|---|---|
| 可用能量 | 5,064.0 kWh | 5,028.1 kWh | -0.7% | ≥95% |
| 充放电效率 | 99.0% | 99.3% | +0.3% | ≥95% |
| 系统DCIR | 1.342 | 1.366 | +1.8% | ≤3% |
| SOC漂移 | — | 0.9% | — | ≤2% |
| Rack最大温差 | — | 0.4°C | — | ≤1.0°C |
| 通信可用性 | — | 99.998% | — | ≥99.9% |
| 关键保护误触发 | 0 | 0 | 0 | 0目标 |
早期故障复现与复测 证据闭环
事件检测与隔离
Rack 12 NTC间歇开路被事件捕获并隔离。根因观察
检查连接器、端子和传感器线路状态。纠正与加固
完成接插件检查、重新固定与必要纠正。定向监测 24h
0 复发
对比验证
趋势正常
放行依据
0 复发
趋势正常
无新的扩散
允许进入下一阶段
趋势正常
无新的扩散
允许进入下一阶段
老化证据档案 完整保存 · 可追溯
RCP
老化配方与计划
ATP / Recipe / Batch
CUR
趋势曲线
OCV / DCIR / SOC
1S
1秒趋势数据
Process Trend
100
100ms事件捕获
Fast Capture
IR
热像照片
Thermal Evidence
HLT
前后健康对比
Health Comparison
NCR
NCR与异常记录
Exception Closure
REL
复测与放行
Retest / Release
放行至后续功能与FAT阶段 老化阶段结束
标准与规范依据 生产老化阶段
工程边界:
本页描述的是生产阶段的 Early-Life Screening。
72小时老化用于发现早期故障、漂移和装配/连接问题,
不应被解释为完整寿命、长期耐久或全生命周期资格验证。